[发明专利]检查芯片及其制造方法在审
| 申请号： | 202280020128.7 | 申请日： | 2022-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN116940848A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 文珠卓也 | 申请（专利权）人： | 迪睿合电子材料有限公司 |
| 主分类号： | G01N35/08 | 分类号： | G01N35/08 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 周爽;金玉兰 |
| 地址： | 日本栃木*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供一种检查芯片，其使显色不均被显著地抑制，并且不依赖于被检查液的导入量而能够简便地实现定量化。检查芯片具备一个表面侧的第一层、以及另一表面侧的第二层，所述第一层和所述第二层中的任一方具有液体接收部A，所述第一层至少具有检测确认部B，所述第二层至少具有与所述检测确认部B邻接的液体流通部D、以及与所述液体流通部D连接的液体流路E，构成为在将被检查液滴加到所述液体接收部A时，该被检查液通过毛细管现象以预定的顺序流通，到达所述检测确认部B，在所述第一层的表面以及所述第二层的表面中，至少除所述液体接收部A以外的坯料M的面被膜密封。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 芯片 及其 制造 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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