[发明专利]低成本的B方法高压隔离筛选测试在审

专利信息
申请号: 202280011994.X 申请日: 2022-01-24
公开(公告)号: CN116802509A 公开(公告)日: 2023-09-22
发明(设计)人: T•D•博尼菲尔德 申请(专利权)人: 德克萨斯仪器股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 袁策
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 一种方法(100)包括:将AC测试电压信号(VT)施加(110)到电子器件的端子,该AC测试电压信号(VT)具有300Hz至100kHz的测试频率(F1);感测(112)在AC测试电压信号(VT)的施加期间该电子器件的电流信号(IT);以及响应于电流信号(IT)小于电流阈值(ITH),将电子器件(200)标识(115)为通过隔离测试。在将电子器件标识(115)为通过隔离测试之后,方法(100)包括:将第二AC测试电压信号(VT)施加(116)到电子器件的端子,该第二AC测试电压信号(VT)具有300Hz至100kHz的第二测试频率(F2);测量(118)在施加第二AC测试电压信号(VT)期间该电子器件的放电;以及响应于放电小于放电阈值(DTH),将电子器件(200)标识(121)为通过放电测试。
搜索关键词: 低成本 方法 高压 隔离 筛选 测试
【主权项】:
暂无信息
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