[实用新型]测试电路及测试装置有效
| 申请号： | 202223048577.9 | 申请日： | 2022-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN219015345U | 公开（公告）日： | 2023-05-12 |
| 发明（设计）人： | 郑周坪;李洪林;韦冬宇;徐朝圣 | 申请（专利权）人： | 深圳深浦电气有限公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 田甜 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请属于电子电路技术领域，提供了一种测试电路及测试装置。测试电路包括第一开关模块、第二开关模块和第三开关模块。所述第二开关模块分别与所述第一开关模块和所述第三开关模块电连接，所述第一开关模块用于与传感器电连接，所述第一开关模块、所述第二开关模块和所述第三开关模块均用于与外部电源电连接。本申请实施例提供的测试电路可以测试传感器的反接保护性能和短路保护性能，并且可以兼容NPN传感器和PNP传感器，即本申请采用一种电路就可以对传感器的多项电气参数进行测试，且同时兼容NPN传感器和PNP传感器，测试过程简单且测试效率高，解决了现有的传感器的电气参数测试比较繁琐而导致测试效率低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 装置 | ||
【主权项】：
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