[实用新型]一种电子元件测试装置有效

专利信息
申请号: 202222817409.5 申请日: 2022-10-24
公开(公告)号: CN218727699U 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 黄佳枫;周耿涛 申请(专利权)人: 中盛世有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04;G01R1/073
代理公司: 深圳市知太狼知识产权代理有限公司 44915 代理人: 王峰
地址: 518000 广东省深圳市宝安区新安街*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型属于电子元件测试技术领域,尤其为一种电子元件测试装置,包括机体,所述电子元件测试装置还包括电子元件固定工位和探针测试工装均安装在所述机体的顶面;所述电子元件固定工位包括下定位模组、上定位模座和悬浮安装板;所述探针测试工装包括一号活动平台、二号活动平台、L型安装架、安装柱、测试探针和调节立板,所述一号活动平台安装在所述机体的顶部且具有沿Z轴方向的移动自由度;本实用新型的电子元件测试装置,利用设置的调节立板和安装柱,通过设置的水平腰孔和斜腰孔,当调节立板沿竖直方向移动时,能够使安装柱带动测试探针沿水平方向移动,以调节两个测试探针的间隔,适用于不同规格的电子元件测试需求,适用范围广泛。
搜索关键词: 一种 电子元件 测试 装置
【主权项】:
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