[实用新型]一种基于闪烁光纤长度选择降低硅光电倍增管辐照损伤装置

摘要

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种能够实现降低SIPM辐照损伤、能够灵活开展距离、长度、替换等实验要素、提高试验效率的基于闪烁光纤长度选择降低硅光电倍增管辐照损伤装置。该装置包括暗箱壳体，暗箱壳体内通过滑动结构设置有安装板，暗箱壳体右端时设置有盖板，盖板上设置有开口，开口处设置有密封板。在进行探测器实验时，将实验所用到的成像探测器、闪烁屏等仪器放置在安装板上，然后推回暗箱壳体内，然后选择合适长度的闪烁光纤阵列伸入至暗箱壳体内部即可，通过开口便可更换不同长度的光纤，通过光纤长度伸展，便可增大SIPM与中子束流的距离，从而降低SIPM辐照损伤，操作简单，适合在核科学及机械工程探测器技术领域推广应用。