[实用新型]一种倒装式特高频局部放电GTEM小室检测装置有效
| 申请号: | 202222480525.2 | 申请日: | 2022-09-19 | 
| 公开(公告)号: | CN218445794U | 公开(公告)日: | 2023-02-03 | 
| 发明(设计)人: | 龚良 | 申请(专利权)人: | 武汉弗凡科技有限责任公司 | 
| 主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12;G01R1/04 | 
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 | 
| 地址: | 430030 湖北省武汉市硚口区*** | 国省代码: | 湖北;42 | 
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| 摘要: | 本实用新型公开了一种倒装式特高频局部放电GTEM小室检测装置,涉及电磁测试技术领域,包括水平设置的顶板和倾斜向下设置的底板,顶板和底板通过两个侧板固定连接,顶板的顶端贯穿开设有测试窗口,测试窗口的一侧摆放有特高频局放传感器,顶板、底板和两个侧板的一侧连接有同一后端盖,侧板的两侧均设置有固定组件,底板底端的四个边角处均固定设置有支腿,支腿的内侧固定设置有安装板,安装板的底部设置移动组件。本实用新型设计结构合理,通过将该检测装置的顶板设置呈水平面,当将高频局放传感器放置在测试窗口旁时,能够提高高频局放传感器放置时的稳定性,减小测试过程因高频局放传感器位置变动给测试带来影响的可能。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 倒装 高频 局部 放电 gtem 小室 检测 装置 | ||
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