[实用新型]一种光发射次模块加工用老化测试箱有效
| 申请号： | 202222112041.2 | 申请日： | 2022-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN217981690U | 公开（公告）日： | 2022-12-06 |
| 发明（设计）人： | 马小立;司马卫武 | 申请（专利权）人： | 广东光智通讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01M11/00;H05K7/20;H04B10/073 |
| 代理公司： | 北京和联顺知识产权代理有限公司 11621 | 代理人： | 郭苗苗 |
| 地址： | 523000 广东省东莞市松山湖*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种光发射次模块加工用老化测试箱，包括测试箱主体、底座、立柱、复用器和分路器，测试箱主体底部的一侧固定有底座，且底座的顶端固定有立柱，测试箱主体底部的一侧安装有温度传感器，且温度传感器一侧的测试箱主体底部安装有光缆扇出器，测试箱主体的内壁上安装有陶瓷电加热板，测试箱主体一侧的内壁上安装有误码仪，测试箱主体的内壁上安装有复用器。本实用新型不仅避免待测光模块之间相互影响，提高测试箱对待测光模块的老化测试精度，使得待测光模块处于不同的温度下进行老化测试，提高测试箱的检测效率，还提升测试箱的散热性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发射 模块 工用 老化 测试 | ||
【主权项】：
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