[实用新型]大功率二极管芯片测试老化用夹具

摘要

本实用新型提供大功率二极管芯片测试老化用夹具，涉及测试老化用夹具技术领域。该大功率二极管芯片测试老化用夹具，包括固定底座，所述固定底座顶部固定连接有散热板和固定板，所述固定底座顶部设有移动板，所述移动板和固定板相对一侧均设有夹持框，该大功率二极管芯片测试老化用夹具，当移动板移动通过弹性组件推动其中一个夹持框靠近芯片，使两个夹持框上的传动组件对芯片进行快速夹持，同时移动板与其中一个夹持框之间设置的弹性组件，使伸缩杆对夹持框进行推动，使夹持时弹性的效果，避免在夹持框夹持过程中过紧导致芯片出现损坏的情况，同时也可以针对不同的尺寸的芯片进行一个快速夹持的作用。