[实用新型]一种光电耦合器的耐压测试装置有效
| 申请号： | 202220722477.0 | 申请日： | 2022-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN217820665U | 公开（公告）日： | 2022-11-15 |
| 发明（设计）人： | 向玉双;孔天午;王慧卉 | 申请（专利权）人： | 湖南思微特科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12;G01R1/02;G01R1/04 |
| 代理公司： | 湖南省娄底市兴娄专利事务所(普通合伙) 43106 | 代理人： | 王心中 |
| 地址： | 412000 湖南*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种光电耦合器的耐压测试装置，涉及耦合器技术领域，本实用新型包括测试柜，测试柜的内部通过抵压组件连接有耦合器主体，测试柜的内部通过缓撑组件连接有耐压测试仪，抵压组件包括固定架、螺杆、固定板、升降板和转动圆台，缓撑组件包括支撑板、滑杆和弹簧，测试柜的内部相对的两内壁之间活动设置有支撑板，支撑板的两侧顶部均穿设有滑杆耐压测试仪嵌于支撑板的顶部中心处。本实用新型为一种光电耦合器的耐压测试装置，方便耦合器主体与耐压测试仪连接安装，完成耦合器主体的耐压测试，提高了耦合器主体的耐压测试效率，能够避免安装时出现损坏的状况，起到缓冲支撑的效果，提高了耦合器主体的耐压测试效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电 耦合器 耐压 测试 装置 | ||
【主权项】：
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