[发明专利]一种程序并发缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备在审
| 申请号： | 202211500228.8 | 申请日： | 2022-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN115981999A | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 袁挺;刘晨;陆杰;李昊峰;李炼;高琳 | 申请（专利权）人： | 中科天齐（山西）软件安全技术研究院有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 张娟芬 |
| 地址： | 030032 山西省太原*** | 国省代码： | 山西;14 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种程序并发缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备，利用自动劫持工具获取待检测程序中的同步语句；获取劫持函数并利用所述劫持函数控制所述同步语句的执行；当所述同步语句执行，判断所述待检测程序中的缺陷是否暴露；当所述待检测程序中的缺陷未暴露，记录所述同步语句的执行轨迹；利用轻量级预测分析对所述执行轨迹进行分析，确定所述待检测程序中所述缺陷的位置。本发明利用轻量级预测分析，避免了为每一个同步事件建立约束表达式进行求解，而是考虑对检测阻塞缺陷更加重要的事件进行分析，通过循环依赖环而非盲目枚举来计算可能阻塞位置。因此，通过实施本发明，降低了依赖性，提高了检测效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 程序 并发 缺陷 检测 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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