[发明专利]一种基于散斑剪切干涉的计量曲面物体离面位移方法在审

专利信息
申请号: 202211454063.5 申请日: 2022-11-21
公开(公告)号: CN115727770A 公开(公告)日: 2023-03-03
发明(设计)人: 彭艳华;牛方明;闫奕樸;王文举;兰海贝;黄德龙 申请(专利权)人: 桂林电子科技大学
主分类号: G01B11/03 分类号: G01B11/03;G01B11/16;G01B11/24;G01B11/25;G01N21/88;G06F17/16;G06F17/10
代理公司: 上海德誉达专利代理事务所(普通合伙) 31426 代理人: 邓敏
地址: 541004 广西壮族*** 国省代码: 广西;45
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摘要: 发明涉及一种基于散斑剪切干涉的计量曲面物体离面位移方法,步骤包括:1、获被测物调制后的正弦条纹图并进行灰度处理;2、得到绝对相位信息,获取物体相对相机的三维坐标,获取物体相对相机的三维坐标;3、计算出被测物表面法向量相对CCD相机光轴的夹角;4、采集被测物表面变形前后的散斑包裹相位图并进行灰度处理和滤波处理;5、计算所测得的表面离面位移信息;6、建立激光散斑所测的离面位移测量值与被测物体表面实际变形的离面位移之间的几何关系;7、求得实际的离面位移;本发明采用剪切散斑干涉与数字条纹投影相结合,以检测出曲面(斜面)物体内部缺陷的同时,并能获取其离面位移信息用于分析其缺陷属性,有利于曲面物体内部缺陷属性的评估。
搜索关键词: 一种 基于 剪切 干涉 计量 曲面 物体 位移 方法
【主权项】:
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