[发明专利]一种基于数据容差分析扩展的天线阵列故障诊断方法在审
申请号: | 202211403448.9 | 申请日: | 2022-11-10 |
公开(公告)号: | CN115561530A | 公开(公告)日: | 2023-01-03 |
发明(设计)人: | 张瑛;胡亚捷;丁汀;高家鹏;梁博轩;文雨农 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10;G06N3/08 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人: | 孙一峰 |
地址: | 611731 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明属于天线阵列技术领域,具体涉及一种基于数据容差分析扩展的天线阵列故障诊断方法。数据处理阶段,在远场区域上测量多个方向的远场辐射数据,生成功率信息,利用容差分析对测量得到的功率方向图做预处理,得到考虑阵元位置误差下的功率方向图的上下界,由此扩展数据集。在训练阶段,完成对故障诊断模型的训练,将扩展后的数据集作为神经网络的输入,将失效阵元的位置和数目设置为输出,训练两个神经网络。在应用阶段,在训练阶段测量数据的相同方向上采集数据,将得到的待测数据输入模型中,初步确定失效阵元个数和阵元失效的概率,再根据辐射补偿的公式对待测结果进行数据补偿,依次确定阵元失效的位置。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 数据 分析 扩展 天线 阵列 故障诊断 方法 | ||
【主权项】:
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