[发明专利]基于二维阵列磁场传感器的涂层下金属基体损伤检测装置及其操作方法在审
| 申请号： | 202211379298.2 | 申请日： | 2022-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN115901934A | 公开（公告）日： | 2023-04-04 |
| 发明（设计）人： | 窦世涛;赵方超;胡广洋;黄波;何建新;封先河;王成章;朱玉琴;陈新;李佳蒙 | 申请（专利权）人： | 中国兵器装备集团西南技术工程研究所 |
| 主分类号： | G01N27/90 | 分类号： | G01N27/90 |
| 代理公司： | 重庆立川知识产权代理事务所(普通合伙) 50285 | 代理人： | 廖明亮 |
| 地址： | 400039 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明提供了基于二维阵列磁场传感器的涂层下金属基体损伤检测装置及其操作方法，包括在被测部位设置有多个磁场检测传感器，在磁场检测传感器外布置激励线圈，由所有磁场检测传感器共同构成二维阵列磁场传感单元；根据被测部位面积确定需要放置的磁场检测传感器数量，并在被测部位正上方的非金属基板的孔内放置磁场检测传感器，确保所有磁场检测传感器的有效探测面能够完全覆盖被测部位，设定好多频涡流激励信号发生器的激励信号频率。本发明能长时间获取被测件不同激励频率下的磁场数据图像，便于在不同低激励频率下一次性获取大面积被测部位的损伤数据图像，不仅大幅降低了操作难度、简化了操作步骤，同时能够提高检测效率和检测范围。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 二维 阵列 磁场 传感器 涂层 金属 基体 损伤 检测 装置 及其 操作方法 | ||
【主权项】：
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