[发明专利]一种盘形绝缘子芯盘表面偏差的测量方法在审
| 申请号： | 202211336775.7 | 申请日： | 2022-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN115585751A | 公开（公告）日： | 2023-01-10 |
| 发明（设计）人： | 刘辉 | 申请（专利权）人： | 湖北易格锐德电力科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01B11/00 |
| 代理公司： | 武汉瀛卓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42255 | 代理人： | 张静 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市东湖新技术开发区关东街道武大园*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种盘形绝缘子芯盘表面偏差的测量方法，包括如下步骤：S1、使用三维扫描仪扫描待测盘形绝缘子芯盘的表面，获取待测盘形绝缘子芯盘表面的点云数据；S2、将步骤S1中的所述点云数据进行处理，得到待测盘形绝缘子芯盘的三角化模型；S3、选定预存的芯盘CAD模型的部分几何特征，将步骤S2中的所述三角化模型与预存的芯盘CAD模型以选定的几何特征为基准进行对齐；S4、进行表面偏差比对，如果测量的尺寸偏差在预设公差范围内，则该待测盘形绝缘子芯盘合格，反之，则不合格。本发明采用三维扫描仪并结合测量软件检测待注塑的绝缘子芯盘的尺寸偏差，避免漏检的问题出现，不仅可以实现混合绝缘子的稳定生产，还可保证生产质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 绝缘子 表面 偏差 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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