[发明专利]一种基于TDLAS多谱线联合复用的同位素测量系统及测量方法在审
| 申请号: | 202211335935.6 | 申请日: | 2022-10-28 |
| 公开(公告)号: | CN115979962A | 公开(公告)日: | 2023-04-18 |
| 发明(设计)人: | 李想;阚瑞峰;曹乃亮;许振宇;孟杰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号: | G01N21/03 | 分类号: | G01N21/03;G01N21/11;G01N21/31;G01N21/39 |
| 代理公司: | 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 | 代理人: | 袁由茂 |
| 地址: | 230031 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: |
本发明公开了一种基于TDLAS多谱线联合复用的同位素测量系统及其测量方法,能避免现有光谱同位素测量中选取个别特征谱线进行计算的不足,具有高精度、高准确性的特点。利用H |
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| 搜索关键词: | 一种 基于 tdlas 多谱线 联合 同位素 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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