[发明专利]参数检查方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202211317083.8 | 申请日： | 2022-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN115801225A | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 李伟;吴艾青;杨晨光;王一伕;陈億;南龙梅;陈韬 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军战略支援部队信息工程大学 |
| 主分类号： | H04L9/06 | 分类号： | H04L9/06;H04L9/30 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李伟 |
| 地址： | 450001 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种参数检查方法、装置、电子设备和存储介质，在密码算法程序中获得目标参数及其对应的目标标识符；不同的目标参数对应不同的目标标识符；调用目标标识符对应的检查规则对目标参数进行检测，以判断目标参数是否满足所述检查规则；若目标参数不满足至少一个检查规则，输出与上述至少一个检查规则对应的提示信息。本申请在密码算法程序中插入了用于识别不同目标参数的目标标识符，进而利用目标标识符对应的检查规则对目标参数进行检查，并在目标参数不满足至少一个检查规则时，输出与上述至少一个检查规则的提示信息，以便于程序开发人员进行相应的纠正。基于本申请实现了密码算法中参数的自动检查，提高了参数检查效率。 | ||
| 搜索关键词： | 参数 检查 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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