[发明专利]基于辐射传输模型的杂散辐射光线追迹方法及装置在审
| 申请号： | 202211295397.2 | 申请日： | 2022-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN115688398A | 公开（公告）日： | 2023-02-03 |
| 发明（设计）人： | 胡铭钰;张新;史广维;刘铭鑫;闫磊 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06T15/06;G06T17/20 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 孟洁 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明一种基于辐射传输模型的杂散辐射光线追迹方法及装置，包括：在均匀温度场的元件范围内采用传统光线追迹方法；在非均匀温度场内采用辐射传输追迹方法，使用辐射传输模型计算微元面的能束传输过程；其中传统光线追迹与辐射传输追迹过程独立，每条光线的追迹过程独立，每个微元面的能束传输过程独立。本发明结合传统的非序列光线追迹方法，将热辐射传输过程与杂散光分析过程结合，在均匀温度场的元件范围内采用传统光线追迹方法，在非均匀温度场内引入辐射传递因子，采用辐射传输模型计算微元面的能束传输过程，热辐射杂散光集成分析仿真结果具有实时性和直观性，适用于非均匀温度场及温度梯度系统的仿真应用。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 辐射 传输 模型 光线 方法 装置 | ||
【主权项】：
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