[发明专利]一种用于微量放射性元素同时测量的X射线荧光分析系统在审
| 申请号： | 202211239061.4 | 申请日： | 2022-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN115825131A | 公开（公告）日： | 2023-03-21 |
| 发明（设计）人： | 马敬;房映彤;刘权卫;杨菡;赵雅平;张兆清 | 申请（专利权）人： | 中国核电工程有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N23/2204 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 罗建民;邓伯英 |
| 地址： | 100840 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于微量放射性元素同时测量的X射线荧光分析系统，高压发生器朝向X光管中的靶材发射电子，靶材响应于电子入射而发射原级X射线，半环弯晶衍射器从中分离出预设能量范围的X射线，并聚焦后导向至样品室中的样品上，样品响应于预设能量范围的X射线入射而发射荧光X射线，放射性元素探测组件中的全环弯晶衍射器从中分离出放射性元素的特征X射线，并聚焦后导向至探测器中，不同的放射性元素探测组件用于探测并接收不同放射性元素的特征X射线。本发明可提高光源的衍射效果和聚焦性，实现单色X射线的筛选，大大降低放射性元素的检出限，提高测量准确度，同时从硬件的单色性克服不同质量浓度下多个放射性元素谱峰的重叠干扰问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 微量 放射性元素 同时 测量 射线 荧光 分析 系统 | ||
【主权项】：
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