[发明专利]光学系统衍射杂散光分析方法在审
| 申请号： | 202211214003.6 | 申请日： | 2022-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN115391719A | 公开（公告）日： | 2022-11-25 |
| 发明（设计）人： | 张新;叶昊坤;史广维 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G06F17/10 | 分类号： | G06F17/10;G01M11/02 |
| 代理公司： | 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 | 代理人： | 郭婷 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学系统衍射杂散光分析方法，包括以下步骤：S1、在杂散光分析软件中建模光机系统；S2、通过杂散光分析软件对光机系统进行光线追迹，得到出射光线的出射光场；S3、将出射光线的信息录入至光线数据库，重复上述步骤2，直至所有出射光线能量低于阈值ΔE或逸出光机系统时停止光线追迹；并根据光线数据库中的信息进行分析得到杂散光分析结果。采用本发明提供的方法可以实现光学系统衍射杂散光的准确、快速分析，有助于提出有效的改进措施，最终明显降低衍射杂散光对光学系统成像质量的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 光学系统 衍射 散光 分析 方法 | ||
【主权项】：
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