[发明专利]一种电子元器件的耐压测试系统在审
| 申请号： | 202211212771.8 | 申请日： | 2022-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN115389886A | 公开（公告）日： | 2022-11-25 |
| 发明（设计）人： | 付柯楠;石宝松;闫春影 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12;G01D21/02 |
| 代理公司： | 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 | 代理人： | 陈陶 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明涉及电子元器件测试领域，具体提供了一种电子元器件的耐压测试系统，包括测试工装、高压电源、控制器、温度传感器、湿度传感器、电压变换器、采集卡和上位机；测试工装用于固定被测元器件；高压电源用于接收控制器的控制信号；温度传感器、湿度传感器用于将环境温度、湿度信息转换为电信号后发送给控制器；电压变换器用以将高压电源输出的电压衰减为低压；采集卡用以采集经电压变换器转换的电压数据；上位机用以进行高压电源控制、温湿度实时监控、数据采集和数据存储。本发明中的测试系统可对电子元器件进行耐压测试，满足电子元器件二次筛查的测试数据记录、存储和比对需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元器件 耐压 测试 系统 | ||
【主权项】：
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