[发明专利]SAR型ADC的采样方法及其SAR型ADC在审
申请号: | 202211199455.1 | 申请日: | 2022-09-29 |
公开(公告)号: | CN115499010A | 公开(公告)日: | 2022-12-20 |
发明(设计)人: | 吴宏;杨细芳;蔡华 | 申请(专利权)人: | 湖南恩智精测电子技术有限公司 |
主分类号: | H03M1/12 | 分类号: | H03M1/12;H03M1/46 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 伍传松 |
地址: | 410205 湖南省长沙市望城经济技*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种SAR型ADC的采样方法及其SAR型ADC,方法包括获取设定的脉冲频率和脉冲高低电位的占比,计算出脉冲的高电位时间和低电位时间;设定ADC的采样速率;根据设定的ADC采样速率计算ADC的采样时间;根据脉冲时间以及ADC的采样时间计算出每个脉冲时间对应的高电平ADC采样次数和低电平ADC采样次数;根据设定的ADC采样速率获得该采样速率下的ADC延时时间;根据ADC延时时间过滤掉对应延时时间内的采集数据,获得去除延时的采集数据;根据每个脉冲时间对应的高电平ADC采样次数和低电平ADC采样次数从去除延时的采集数据中获取有效采集数据。本发明可以在高速的脉冲输出环境下实现精准采样。 | ||
搜索关键词: | sar adc 采样 方法 及其 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于湖南恩智精测电子技术有限公司,未经湖南恩智精测电子技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202211199455.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。