[发明专利]线损测量方法、装置和系统在审
| 申请号： | 202211145465.7 | 申请日： | 2022-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN115598434A | 公开（公告）日： | 2023-01-13 |
| 发明（设计）人： | 王东东;魏于雷 | 申请（专利权）人： | 上海移远通信技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 成丽杰 |
| 地址： | 201601 上海市松江*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请实施例涉及射频测试技术领域，公开了一种线损测量方法、装置和系统，应用于线损测量系统，线损测量系统包括：开路板、短路板和检测设备，开路板包括：两端开路的第一阻抗走线；短路板包括：一端接地、另一端开路的第二阻抗走线；线损测量方法包括：开路板上第一阻抗走线的一端与待测射频线一端连接，检测设备与待测射频线另一端连接，并通过检测设备获取所述待测射频线在预设频点的第一线损值；短路板上第二阻抗走线的开路一端与待测射频线一端连接，检测设备与待测射频线另一端连接，并通过检测设备获取待测射频线在所述预设频点的第二线损值；计算第一线损值和第二线损值的平均值得到待测射频线的线损值。 | ||
| 搜索关键词： | 测量方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
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