[发明专利]基于SiC MOSFET的浪涌电流测试电路及充放电方法在审

专利信息
申请号: 202211129647.5 申请日: 2022-09-16
公开(公告)号: CN115389900A 公开(公告)日: 2022-11-25
发明(设计)人: 李贺龙;韩亮亮;张满;于浪浪;王澳;赵爽;杨之青;丁立健 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;H02H9/04;H02J7/00;H02J7/34
代理公司: 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 代理人: 陆丽莉;何梅生
地址: 230009 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种基于SiC MOSFET的浪涌电流测试电路及充放电方法,包括:充电电路,浪涌电流产生电路、测量器件电路、放电电路和驱动电路组成,其中,充电电路由一个电压源和薄膜电容组成,进行浪涌测试之前,对薄膜电容进行充电,充电过程由充电电路进行;浪涌电流产生电路由薄膜电容和一个电感L组成,并产生正弦电流,被测器件为SiCMOSFET;驱动电路是对被测器件SiC MOSFET进行开通和关断。
搜索关键词: 基于 sic mosfet 浪涌 电流 测试 电路 放电 方法
【主权项】:
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