[发明专利]基于点光源的绝对辐射校正方法、装置、设备和介质有效
| 申请号： | 202211092063.5 | 申请日： | 2022-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN115170442B | 公开（公告）日： | 2022-12-02 |
| 发明（设计）人： | 刘方坚;张廷涛;胡玉新;张丹丹;王慧贤;蒋许淼 | 申请（专利权）人： | 中国科学院空天信息创新研究院 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00;G01D21/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王文思 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于点光源的绝对辐射校正方法、装置、设备和介质，应用于遥感图像处理技术领域，以在微弱的可见光条件下，对地面目标的遥感影像进行绝对辐射校正，实现高精度辐射校正。该基于点光源的绝对辐射校正方法包括获取在静轨卫星的微光载荷观测时段内观测环境的大气参数；根据微光载荷的遥感影像，计算观测地点中多个预设点光源的辐射值；利用大气参数和遥感影像，模拟在微光载荷的微光通道上的大气透过率；根据预设点光源的辐射值和大气透过率，计算微光载荷的绝对定标系数；以及根据绝对定标系数，校正遥感影像，得到绝对辐射影像。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光源 绝对 辐射 校正 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
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