[发明专利]一种用于探测器的干扰横条纹校正方法、系统和介质设备在审
| 申请号： | 202211071165.9 | 申请日： | 2022-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN115643492A | 公开（公告）日： | 2023-01-24 |
| 发明（设计）人： | 杨光;罗杰 | 申请（专利权）人： | 成都善思微科技有限公司 |
| 主分类号： | H04N25/44 | 分类号： | H04N25/44;H04N25/77;H04N25/75;H04N25/78;H04N23/81;G01T7/00 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 厉洋洋 |
| 地址： | 610200 四川省成都市中国（四川）自由贸易*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于探测器的干扰横条纹校正方法、系统和介质设备，涉及平板探测器及线阵探测器的应用领域。该方法包括：在正常读出当前行多列像素前，将像素阵列与后级信号读出电路间的模拟开关设置为第一开关状态；根据需要确认待输出列信号读出电路的数量；将所述多列信号读出电路输出作平均后得到当前行偏置系数；将开关设置为第二开关状态，获得此时列信号读出电路的输出；将所述多列输出减去当前行偏置系数，获得当前行多列像素的校正信号输出；逐行扫描并重复以上步骤，直至获得所有像素的校正信号输出。相比于DDS功能，本方案无需复杂的硬件电路支持，提升了芯片良率，降低了暗场图像噪声，提升了探测器的极限帧速率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 探测器 干扰 条纹 校正 方法 系统 介质 设备 | ||
【主权项】：
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