[发明专利]一种电取向下液晶材料的毫米波介电性能测试装置及方法在审
| 申请号： | 202211046593.6 | 申请日： | 2022-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN115469153A | 公开（公告）日： | 2022-12-13 |
| 发明（设计）人： | 余承勇;程锦;龙嘉威;李恩;高冲;高勇;张云鹏;郑虎 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;H01P7/00 |
| 代理公司： | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人： | 吴姗霖 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： |
本发明的目的在于提供一种电取向下液晶材料的毫米波介电性能测试装置及方法，属于微波测试技术领域。本发明在液晶材料介电常数测试中，设计了多层介质构成的液晶盒，并创新性地使用多层介质构成上下对称型TM |
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| 搜索关键词： | 一种 向下 液晶 材料 毫米波 性能 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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