[发明专利]一种基于空-谱联合显著性特征表达的高光谱异常检测方法在审
申请号: | 202210972870.X | 申请日: | 2022-08-15 |
公开(公告)号: | CN115393711A | 公开(公告)日: | 2022-11-25 |
发明(设计)人: | 李欢;刘志宇;宋江鲁奇;周慧鑫;唐骏;滕翔;杨庆友;王财顺;梅峻溪;白宇婷;于跃;罗云麟;甘长国;朱贺隆;张伟鹏 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G06V20/10 | 分类号: | G06V20/10;G06V10/80;G06V10/77;G06V10/46 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人: | 段俊涛 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种基于高光谱图像的异常检测方法,本发明基于空‑谱联合显著性特征表达的方法对高光谱图像进行异常检测。具体方法包括:首先通过联合双窗结构与改进光谱距离计算的光谱特征提取方法完成光谱特征的提取,同时通过基于数据降维与曲率滤波的空间特征提取方法完成空间特征的提取,其次联合两种不同属性特征获得空‑谱初始特征。最后通过基于前后文感知的高光谱显著性检测方法进行异常检测,从而获得异常检测结果。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 联合 显著 特征 表达 光谱 异常 检测 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210972870.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种混合粉尘分选装置
- 下一篇:一种熔模铸造用保温浇包