[发明专利]一种基于两点法红外成像系统非均匀校正的补偿方法在审
| 申请号： | 202210965700.9 | 申请日： | 2022-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN115355995A | 公开（公告）日： | 2022-11-18 |
| 发明（设计）人： | 张迪;王德江;刘晶红;宋玉龙;陈成;孙翯;宋策;马铭阳 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01J5/48 | 分类号： | G01J5/48;G01J5/53 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 刘建伟 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本申请涉及红外预警、红外探测的技术领域，提供一种基于两点法红外成像系统非均匀校正的补偿方法，包括步骤：根据红外成像系统实际工作的大气辐射路径环境，建立红外成像系统非均匀校正模型，模拟仿真当前红外探测器工作响应谱段的大气透过率参数；根据模拟仿真的所述大气透过率参数，定制适合当前红外成像系统的大气透过率等效模拟器件；根据上述大气透过率等效模拟器件进行指标测试，确保满足设计要求；将测试合格的大气透过率等效模拟器件安装于红外探测器与光学系统之间，对红外成像系统进行低温黑体标校。本申请的方法不仅操作简单，还能实现在地面即可完成接近真实工作场景的红外成像系统标校。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 两点 红外 成像 系统 均匀 校正 补偿 方法 | ||
【主权项】：
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