[发明专利]精密微波测距系统整体时延温变系数的标定系统及方法在审
| 申请号： | 202210910148.3 | 申请日： | 2022-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN115372917A | 公开（公告）日： | 2022-11-22 |
| 发明（设计）人： | 刘玄;杨珊珊;钟兴旺;薛大雷;薛燕;朱莹 | 申请（专利权）人： | 西安空间无线电技术研究所 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 茹阿昌 |
| 地址： | 710100 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 精密微波测距系统整体时延温变系数的标定系统及方法，两套无振源透波温控系统内分别放置有一套K波段微波测距系统，无振源透波温控系统用于改变K波段微波测距系统所处环境温度，并采集K波段微波测距系统的温度改变量△T；微波远场屏蔽暗室用于隔离外部电磁信号对两K波段微波测距系统进行信号传播的干扰；微波空域衰减转发装置用于模拟K波段微波测距系统在轨信号传播的衰减；激光干涉仪用于采集由于环境温度改变，带来K波段微波测距系统位置的改变量ΔD；数据接口检测设备用于确定时延‑温变系数δ。本发明系统和方法简单可靠，可为在轨数据补偿提供数据参考。 | ||
| 搜索关键词： | 精密 微波 测距 系统 整体 时延温变 系数 标定 方法 | ||
【主权项】：
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