[发明专利]一种高介电材料的太赫兹连续波波束校准方法与成像装置在审

专利信息
申请号: 202210832582.4 申请日: 2022-07-14
公开(公告)号: CN115479913A 公开(公告)日: 2022-12-16
发明(设计)人: 赖大坤;番雄彬;茶兴增;安红宇;李恩 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01N21/3581 分类号: G01N21/3581;G01N21/59;G01N21/01
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种高介电材料的太赫兹连续波波束校准方法与成像装置,成像装置主要包括:太赫兹连续波收发模块,太赫兹光路扫描模块,主控主机模块,校准方法主要包括以下步骤:首先,初始化设定太赫兹收发模块,使形成近似为射线的高斯波束,并得到能表征反射率的参数S11和透过率的参数S21;然后,测出太赫兹波垂直全反射时的参数S11记为S11全;太赫兹波束三维扫描成像物体,并记录下每个位置的S11和S21;用S11中的最大值结合介电与反射系数之间的关系,推算出材料的介电;用S21的跳变逼近物体的实际轮廓;利用以上信息推算出物体每个位置的反射率以及折射角和光程差,进而修正S21';结合扫描修正的S21'和层析成像算法对成像物体进行内部结构的图像重建。
搜索关键词: 一种 高介电 材料 赫兹 连续 波束 校准 方法 成像 装置
【主权项】:
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