[发明专利]一种光学元件表面钢块位置坐标的定位调试与测量方法在审
| 申请号： | 202210821957.7 | 申请日： | 2022-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN114964103A | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 杨杰;胡琦;张奥;罗平 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G01B21/04 | 分类号： | G01B21/04 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 邓治平 |
| 地址： | 610209 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光学元件表面钢块位置坐标的定位调试与测量方法，本发明方法是利用三点升降调节架支撑光学元件底部球面，采用工形靶座作为激光跟踪仪球形靶球的测量座，用于接触测量获取光学元件环口平面和圆心；将激光跟踪仪分别安装于光学元件侧面和底部，使用工形靶座与光学元件环口平面、外圆柱面接触，通过工形靶座上放置球形靶球测量光学元件几何参数建立坐标系，利用激光跟踪仪实时坐标对需粘贴钢块的位置进行定位调试；本发明解决了光学元件需同一工件坐标系下完成外圆柱面及底部球面钢块粘贴位置的调试与测量问题，具有检测基准统一、复现性好等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 元件 表面 位置 标的 定位 调试 测量方法 | ||
【主权项】：
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