[发明专利]一种系统级集成电路的直流压降分析系统及分析方法在审
| 申请号： | 202210816501.1 | 申请日： | 2022-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN115238634A | 公开（公告）日： | 2022-10-25 |
| 发明（设计）人： | 金鑫;颉建荣 | 申请（专利权）人： | 天水天光半导体有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F30/392 | 分类号： | G06F30/392;G06F30/398;G06F30/23 |
| 代理公司： | 兰州塞维思知识产权代理事务所(普通合伙) 62208 | 代理人： | 陈醒 |
| 地址： | 741000 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开一种系统级集成电路的直流压降分析系统及分析方法。本发明所述方法首先将系统级集成电路划分为多个子系统，在分析第m个子系统时，将除第m个子系统之外的所有子系统视为一个待处理系统；对每个子系统的场进行网格划分，将子系统的外部电路和其他子系统的过孔与场连接的点加入网格节点，对网格节点进行统一编号，形成统一的有限元稀疏矩阵；利用星三角变换法剔除有限元稀疏矩阵中待处理系统的内部节点，得到用于分析第m个子系统场的稀疏矩阵，准确求解第m个子系统的稀疏矩阵，简化求解过程，在保证求解精度的基础上提高求解速度，实现系统级VLSI DC压降快速准确分析。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 系统 集成电路 直流 分析 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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