[发明专利]InP半导体激光器及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202210760657.2 申请日: 2022-06-29
公开(公告)号: CN114937922A 公开(公告)日: 2022-08-23
发明(设计)人: 剌晓波;李振宇;梁松 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01S5/10 分类号: H01S5/10;H01S5/22
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 吴梦圆
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种InP半导体激光器的制作方法,包括:在InP衬底上生长第一外延层;在第一外延层上生长InP间隔层、光栅层;在光栅层上生长包括InP填充层、刻蚀停止层、InP包层及InGaAs盖层的第二外延层;刻蚀InP包层、InGaAs盖层,以形成脊波导;在刻蚀停止层和脊波导上外延生长氧化硅连接层;在氧化硅连接层上生长多晶硅层;刻蚀多晶硅层,形成多晶硅波导层,其中,多晶硅波导层与脊波导的楔形波导的周边连接;在氧化硅连接层、脊波导、多晶硅波导层上生长氧化硅钝化层;去除脊波导上的氧化硅钝化层,形成电极窗口;在电极窗口上形成正面电极层,在InP衬底的与第一外延层相反的一侧形成背面电极层。本发明还提供一种上述的制作方法得到的InP半导体激光器。
搜索关键词: inp 半导体激光器 及其 制作方法
【主权项】:
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