[发明专利]低频振动测试系统及测量方法在审

专利信息
申请号: 202210723210.8 申请日: 2022-06-23
公开(公告)号: CN114993451A 公开(公告)日: 2022-09-02
发明(设计)人: 张铈岱;刘晓栋;高锦辉;蔡旭;徐阳;徐松屹 申请(专利权)人: 无锡中鼎集成技术有限公司
主分类号: G01H9/00 分类号: G01H9/00;G01H11/06
代理公司: 无锡市兴为专利代理事务所(特殊普通合伙) 32517 代理人: 屠志力
地址: 214000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种低频振动测试系统,包括:隔振支架,用于安装位移传感器;位移传感器,安装在隔振支架上,与被测物体非接触式设置;所述位移传感器用于非接触式测量被测物体振动时的低频振动信号;信号采集单元,包括依次连接的输入接口、第一信号调理电路、微处理器和输出接口;所述位移传感器连接输入接口,所述输出接口连接上位机;第一信号调理电路用于将位移传感器测量的低频振动信号进行低通滤波和模数转换,所述微处理器用于采集第一信号调理电路输出的数字量的低频振动信号并向上位机发送;上位机,对输入的数字量的低频振动信号进行处理与分析。本发明的测量精度高、低频响应好。
搜索关键词: 低频 振动 测试 系统 测量方法
【主权项】:
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