[发明专利]一种基于T5385ES测试设备的测试接口装置在审

专利信息
申请号: 202210644934.3 申请日: 2022-06-08
公开(公告)号: CN115273958A 公开(公告)日: 2022-11-01
发明(设计)人: 王立恒;王昆黍;楼建设;江芸;游君 申请(专利权)人: 上海精密计量测试研究所
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56;H05K1/18
代理公司: 上海航天局专利中心 31107 代理人: 唐敏
地址: 201109 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明提供了一种基于T5385ES测试设备的测试接口装置,其特征在于,其只由一块母板测试板组成,包括测试设备接口、POGO PIN接口,所述POGOPIN接口与测试设备接口采用PCB走线进行连接,所述测试设备接口采用同轴接口模块与T5385ES测试设备硬件资源连接,所述POGO PIN接口与测试接口子板连接,为被测器件DUT提供电源及输入输出信号。本发明提供的T5385ES测试设备改进型接口母板设计,用POGO PIN连接器替代传统的矩形电连接器、印制板电连接器,用印制板走线替代低频线缆、数据线缆,使测试设备接口装置更加小巧、轻薄,更节约空间,简化装配流程,易于维修,而且传输速率更快,更好的发挥T5385ES性能,满足高速存储器测试需求。
搜索关键词: 一种 基于 t5385es 测试 设备 接口 装置
【主权项】:
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