[发明专利]薄膜结构、包括其的半导体器件、晶体管以及半导体装置在审

专利信息
申请号: 202210624256.4 申请日: 2022-06-02
公开(公告)号: CN115440805A 公开(公告)日: 2022-12-06
发明(设计)人: 崔悳铉;许镇盛;文泰欢;赵常玹 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L29/51 分类号: H01L29/51;H01L29/78
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 翟然
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供一种薄膜结构、包括该薄膜结构的半导体器件和包括该半导体器件的半导体装置。薄膜结构包括基板和在基板上的铁电层。铁电层包括具有萤石结构的化合物,其中001晶向在基板的法线方向上取向,并且具有正交相并包含氟。铁电层可以具有铁电性。
搜索关键词: 薄膜 结构 包括 半导体器件 晶体管 以及 半导体 装置
【主权项】:
暂无信息
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