[发明专利]一种高分辨率太赫兹特征谱线精密测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 202210615378.7 | 申请日： | 2022-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN115078300A | 公开（公告）日： | 2022-09-20 |
| 发明（设计）人： | 梁晓林;姜万顺;杨耀辉;邓建钦;贾定宏;朱伟峰 | 申请（专利权）人： | 中电科思仪科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/3586 | 分类号： | G01N21/3586 |
| 代理公司： | 青岛华慧泽专利代理事务所(普通合伙) 37247 | 代理人： | 刘娜 |
| 地址： | 266000 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高分辨率太赫兹特征谱线精密测试装置及测试方法，测试装置包括微波激励单元、开关矩阵、太赫兹信号发生与合路单元、太赫兹信号探测与合路单元、样品室、太赫兹透镜一、太赫兹透镜二、数据采集单元、集成型适配器、集线器和工控机。本发明所公开的测试装置及测试方法可以实现非金属物质Hz量级太赫兹特征谱线的检测识别，同时实现吸收系数、介点特性等参数的估计，进而实现物质成分的定性和定量分析。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高分辨率 赫兹 特征 精密 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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