[发明专利]功耗测试方法、装置、设备及存储介质有效
| 申请号： | 202210484144.3 | 申请日： | 2022-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN114627955B | 公开（公告）日： | 2022-10-28 |
| 发明（设计）人： | 张曙光 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司;长鑫集电（北京）存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 | 代理人： | 李俊红 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开提供一种功耗测试方法、装置、设备及存储介质，涉及半导体技术领域。所述测试方法包括：根据待测数据量确定预设时长以及所述预设时长对应的测试数据量，其中，所述测试数据量小于或等于系统的数据处理量；对存储单元执行预设测试操作，并获取所述预设时长内的测试功耗；根据所述测试功耗和所述预设时长，确定所述存储单元的功耗。本公开采用小于或等于系统的数据处理量的测试数据量进行测试，获取其测试功耗，将功耗与系统的数据处理量相结合，实现对存储器的功耗的量化分析，提高测试的准确性以及测试结果的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 功耗 测试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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