[发明专利]定量评估铝基板表面微弧氧化膜散热性和绝缘性的方法在审
| 申请号： | 202210477013.2 | 申请日： | 2022-05-02 |
| 公开（公告）号： | CN114894837A | 公开（公告）日： | 2022-08-12 |
| 发明（设计）人： | 陈凡;杜林;赵立有;张超;陈龙;王昆黍 | 申请（专利权）人： | 上海精密计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20;G01N1/28;G01R31/12;G01R31/20 |
| 代理公司： | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人： | 余岢 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明的定量评估铝基板表面微弧氧化膜散热性和绝缘性的方法包括：制备微弧氧化膜厚度不同的铝合金基板作为标定基板；表征铝合金基板表面微弧氧化膜厚度与铝合金基板绝缘性能的关系；在各标定基板上封装LED芯片制得标定样品；采用瞬态热阻法测试各标定样品的热阻；根据微分函数曲线确定微弧氧化膜厚度与微弧氧化膜热阻的独立关系；根据微弧氧化膜厚度、微弧氧化膜热阻和铝合金基板绝缘性能的关系，判定微弧氧化膜的安全厚度范围。本发明解决了现有技术既无法独立评估铝基板表面微弧氧化膜厚度对微弧氧化膜热阻的影响，又没有确定微弧氧化膜最小临界厚度的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 定量 评估 铝基板 表面 氧化 散热 绝缘性 方法 | ||
【主权项】：
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