[发明专利]一种共光路大孔径时间调制干涉光谱成像装置及方法在审

专利信息
申请号: 202210454534.6 申请日: 2022-04-27
公开(公告)号: CN114858278A 公开(公告)日: 2022-08-05
发明(设计)人: 魏儒义;雷俊锋;吴琼水;田猛;曾立波 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/45;G01J3/02;G01J3/06
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 胡琦旖
地址: 430072 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明属于光学技术领域,公开了一种共光路大孔径时间调制干涉光谱成像装置及方法。本装置包括三角形共光路干涉仪,三角形共光路干涉仪为非对称结构且设置有用于产生随时间变化的光程差的动镜扫描机构,本装置工作于凝视观测模式。本发明既能保留传统时空联合调制干涉光谱成像技术在共光路和大孔径方面的优势,又能获取高光谱分辨率,本发明具有高稳定、高通量、高信噪比等优点。
搜索关键词: 一种 共光路大 孔径 时间 调制 干涉 光谱 成像 装置 方法
【主权项】:
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