[发明专利]调试方法、系统、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210434446.X | 申请日： | 2022-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN114996120A | 公开（公告）日： | 2022-09-02 |
| 发明（设计）人： | 李欢 | 申请（专利权）人： | 深圳市广和通无线股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481 | 代理人： | 刘蔓莉 |
| 地址： | 518067 广东省深圳市南山区西丽*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种调试方法、系统、电子设备及存储介质，该调试方法应用于调试设备中，包括：确定嵌入式设备的运行环境异常后，配置目标运行环境；获取嵌入式设备的无排序区块镜像文件系统的镜像，在目标运行环境中对镜像进行调试得到调试结果；根据调试结果确定无排序区块镜像文件系统的异常文件。本申请中，在嵌入式设备的运行环境异常时，在目标运行环境中调试嵌入式设备的无排序区块镜像文件系统的镜像，确定无排序区块镜像文件系统中的异常文件，以便于进行相应调整，恢复嵌入式设备的正常运行，从而解决在嵌入式设备的运行环境异常时，无法进入无排序区块镜像文件系统确定软件程序异常原因的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 调试 方法 系统 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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