[发明专利]数据校验方法及装置、计算机存储介质、电子设备在审

专利信息
申请号: 202210381797.9 申请日: 2022-04-12
公开(公告)号: CN115016978A 公开(公告)日: 2022-09-06
发明(设计)人: 李恒;吴茜;杨虎;于建明 申请(专利权)人: 京东科技控股股份有限公司
主分类号: G06F11/08 分类号: G06F11/08;G06F9/451;G06F16/28
代理公司: 北京律智知识产权代理有限公司 11438 代理人: 王辉
地址: 100176 北京市大兴区北京经*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开涉及计算机技术领域,提供了一种数据校验方法、数据校验装置、计算机存储介质、电子设备,其中,数据校验方法包括:响应于页面获取请求,将预先存储的可视化页面及校验规则发送至前端,以使所述前端展示所述可视化页面,并基于所述校验规则对用户通过所述可视化页面输入的数据进行校验;在接收到所述前端校验通过的目标数据之后,利用校验配置文件对所述目标数据进行再次校验;所述校验配置文件基于所述校验规则生成;响应于所述再次校验通过,将所述目标数据导入数据库。本公开能够保证前后端服务器校验规则的复用,保证前后端校验结果的一致性,提高入库数据的准确度。
搜索关键词: 数据 校验 方法 装置 计算机 存储 介质 电子设备
【主权项】:
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