[发明专利]一种基于深度学习的透射电镜薄膜样品相分布分析方法在审

专利信息
申请号: 202210353194.8 申请日: 2022-04-06
公开(公告)号: CN115272163A 公开(公告)日: 2022-11-01
发明(设计)人: 王超伦;程之恒;钱允涵;叶长青;毕恒昌;吴幸 申请(专利权)人: 华东师范大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06V10/26;G06V10/774;G06V10/82;G06N3/04
代理公司: 上海泰能知识产权代理事务所(普通合伙) 31233 代理人: 宋缨
地址: 200061 上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明涉及一种基于深度学习的透射电镜薄膜样品相分布分析方法,包括以下步骤:提取透射电镜图片中薄膜样品区域;对所述薄膜样品区域进行选区处理,并对每个选区进行快速傅里叶变换获得多个频谱图像;将所述多个频谱图像输入至训练好的神经网络中进行分析,得到所述薄膜样品的相分布。本发明能够高效、准确地识别透射电镜薄膜材料的相分布。
搜索关键词: 一种 基于 深度 学习 透射 薄膜 样品 分布 分析 方法
【主权项】:
暂无信息
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