[发明专利]一种基于深度学习的透射电镜薄膜样品相分布分析方法在审
申请号: | 202210353194.8 | 申请日: | 2022-04-06 |
公开(公告)号: | CN115272163A | 公开(公告)日: | 2022-11-01 |
发明(设计)人: | 王超伦;程之恒;钱允涵;叶长青;毕恒昌;吴幸 | 申请(专利权)人: | 华东师范大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06V10/26;G06V10/774;G06V10/82;G06N3/04 |
代理公司: | 上海泰能知识产权代理事务所(普通合伙) 31233 | 代理人: | 宋缨 |
地址: | 200061 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明涉及一种基于深度学习的透射电镜薄膜样品相分布分析方法,包括以下步骤:提取透射电镜图片中薄膜样品区域;对所述薄膜样品区域进行选区处理,并对每个选区进行快速傅里叶变换获得多个频谱图像;将所述多个频谱图像输入至训练好的神经网络中进行分析,得到所述薄膜样品的相分布。本发明能够高效、准确地识别透射电镜薄膜材料的相分布。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 深度 学习 透射 薄膜 样品 分布 分析 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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