[发明专利]一种基于变分模态分解的X射线荧光光谱本底扣除方法有效

专利信息
申请号: 202210305018.7 申请日: 2022-03-25
公开(公告)号: CN114624271B 公开(公告)日: 2023-08-25
发明(设计)人: 李福生;鲁欣;曾小龙;朱鹏飞 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223;G06F18/10;G06F18/213
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 邹裕蓉
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种基于变分模态分解的X射线荧光光谱本底扣除方法,其特征在于,利用变分模态分解VMD算法对X射线荧光光谱XRF的原始光谱数据进行分解,分解后选择第一层分量进行处理;将处理后的第一层分量再进行迭代分解,直到达到VMD算法的停止条件,并将最后分解得到的第一层分量作为最终估计的本底;在原始光谱数据上减去本底分量得到扣除本底后的光谱数据。本发明具有效果不弱于当前所有已有的本底扣除方法,同时具有使用简单、自适应于所有谱图、效果稳定、无需根据谱图选择不同参数等优点。
搜索关键词: 一种 基于 变分模态 分解 射线 荧光 光谱 本底 扣除 方法
【主权项】:
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