[发明专利]一种具有环形侧壁的高一致性忆阻器及其制备方法在审
申请号: | 202210286847.5 | 申请日: | 2022-03-23 |
公开(公告)号: | CN114665013A | 公开(公告)日: | 2022-06-24 |
发明(设计)人: | 杨玉超;张腾;黄如;卜伟海;汪涵 | 申请(专利权)人: | 北京大学;北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00 |
代理公司: | 北京万象新悦知识产权代理有限公司 11360 | 代理人: | 李稚婷 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种具有环形侧壁的高一致性忆阻器及其制备方法。所述忆阻器包括衬底和位于衬底上的电极‑阻变层‑储氧层‑电极结构,其特征在于,所述储氧层带有环形侧壁,环形侧壁的材料相较于储氧层具有更高的电阻率。本发明通过常规CMOS工艺在功能层中形成环形侧壁,环形侧壁的存在能够在侧壁处阻断储氧层和周围氧化层之间的离子交换,从而提高储氧层氧空位浓度的一致性,进而改善器件的一致性。通过调整淀积的功能层材料厚度及合理控制环形侧壁的成分和宽度可以实现不同程度的改善效果,最终实现具有高一致性的忆阻器件。同时,本发明的器件具有低操作电压及制备工艺与传统CMOS工艺相兼容的优点,对于神经网络计算硬件的最终实现有着重要的意义。 | ||
搜索关键词: | 一种 具有 环形 侧壁 一致性 忆阻器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
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