[发明专利]计算基于扫描电镜的双探测器三维成像深度的方法及系统在审

专利信息
申请号: 202210277934.4 申请日: 2022-03-21
公开(公告)号: CN114693871A 公开(公告)日: 2022-07-01
发明(设计)人: 杨湛;房梁;卞卫国;瞿志;张略;陈涛;孙立宁 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: G06T17/00 分类号: G06T17/00;G06T7/55;G06T5/00;G06T7/33;G06T7/00;G06T7/80;G06T3/40;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 代理人: 李柏柏
地址: 215000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种计算基于扫描电镜的双探测器三维成像深度的方法,包括标定具有第一探测器和第二探测器的扫描电镜的参数;使用扫描电镜拍摄样品图像,对得到的第一原始图像和第二原始图像进行去噪,对第一原始图像和第二原始图像进行训练学习,输出第一图像和第二图像;分别提取第一图像和第二图像的特征点并对其进行匹配;将第一图像和第二图像上的对应点约束到同一水平线上,得到第一校准图像和第二校准图像;计算第一校准图像和第二校准图像的视差;根据视差结果和两个探测器的夹角建立视差‑深度的映射关系并计算得到深度信息。本发明结合SEM内部的双探测器拍摄图像,计算出图像的深度,降低操作的难度,节省时间,且能够提高装配精度和效率。
搜索关键词: 计算 基于 扫描电镜 探测器 三维 成像 深度 方法 系统
【主权项】:
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