[发明专利]坏点检测方法、坏点校正方法及坏点处理系统在审
| 申请号： | 202210177241.8 | 申请日： | 2022-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN114679580A | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | 齐松;宁海涛 | 申请（专利权）人： | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00;H04N5/32;G06T7/00;G06N3/08 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 余明伟 |
| 地址： | 201201 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种坏点检测方法、坏点校正方法及坏点处理系统，坏点检测方法包括以下步骤：S0：采集探测器在出厂之前的数据并制成数据库；其中，数据至少包括图像数据中的像素值或灰度值；S1：基于数据库搭建神经网络，进而训练生成第一坏点检测模型；S2：在探测器出厂之后采集图像时，利用第一坏点检测模型对采集的图像进行坏点检测，若图像中的像素点的像素值或灰度值异常时，则判断为坏点；其中，异常是指出现亮点、暗点或色点。本发明的坏点检测方法搭建了神经网络，通过神经网络深度学习来检测坏点，效率更高；避免了人工参数的调整，解决了现有坏点检测偏于主观、调参复杂、普适性差、鲁棒性差、流程繁琐、人力负担大等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 方法 校正 处理 系统 | ||
【主权项】：
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