[发明专利]一种高应变率加载模式下材料瞬态位错密度的表征方法在审
| 申请号： | 202210142208.1 | 申请日： | 2022-02-16 |
| 公开（公告）号： | CN114739867A | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 张东升;张兵兵;陶冶;余灿 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G01N9/36 | 分类号： | G01N9/36;G01N23/207;G01N23/20008;G01N3/30;G01N3/307 |
| 代理公司： | 北京君尚知识产权代理有限公司 11200 | 代理人： | 司立彬 |
| 地址： | 100049 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高应变率加载模式下材料瞬态位错密度的表征方法，其步骤包括：将单晶材料样品安装在高应变率动态加载装置的样品夹持区上；建立一时序控制系统并分别与高应变率动态加载装置、X射线衍射装置连接；时序控制系统包括两台数字延迟触发器、应变片、超动态应变仪与电磁阀；第一台数字延迟触发器分别连接并控制X射线衍射装置的电磁阀、白光快门；应变片粘贴在高应变率动态加载装置上，用于触发X射线衍射装置的X射线探测器；高应变率动态加载装置在电磁阀控制下发射投射物进而产生应力波，从而向单晶材料样品加载应力，X射线探测器进行曝光记录样品的瞬态衍射信号。数据分析单元根据瞬态衍射信号计算样品的位错密度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 应变 加载 模式 材料 瞬态 密度 表征 方法 | ||
【主权项】：
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