[发明专利]一种表面三维测量方法、系统、装置及存储介质在审

专利信息
申请号: 202210141803.3 申请日: 2022-02-16
公开(公告)号: CN114485481A 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 马天乐;王耿;范兴刚;陈和平;席宁 申请(专利权)人: 深圳市智能机器人研究院
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 郑宏谋
地址: 518000 广东省深圳市南山区粤海街道*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种表面三维测量方法、系统、装置及存储介质。表面三维测量方法包括:对屏幕、相机和待测表面进行预设处理;通过屏幕生成并发射条纹图案;通过相机拍摄反射图案;根据反射图案获取相位信息;根据相位信息计算待测表面的斜率信息;根据斜率信息获取待测表面的高度信息。本发明通过屏幕和相机对待测表面进行三维测量,提升了三维测量方法的便捷性;通过屏幕生成并发射条纹图案,并通过相机拍摄反射图案,实现了在不接触待测表面的情况下对待测表面进行三维测量;通过对反射图案进行分析获取相位信息,并以此计算待测表面上的斜率信息,进而得到待测表面的高度信息,还原待测表面的三维形状,提高了三维测量的精度。
搜索关键词: 一种 表面 三维 测量方法 系统 装置 存储 介质
【主权项】:
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