[发明专利]基于特征重构的表面缺陷检测方法在审
| 申请号： | 202210083931.7 | 申请日： | 2022-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN114419014A | 公开（公告）日： | 2022-04-29 |
| 发明（设计）人： | 张军;李妍;张洋;黄若飞;李思敏;付英健;都旭;曹慧博;刘保辉;李朝阳 | 申请（专利权）人： | 河北工业大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/00;G06V10/80;G06V10/82;G06V10/77;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 天津翰林知识产权代理事务所(普通合伙) 12210 | 代理人： | 蔡运红 |
| 地址： | 300130 天津市红桥区*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明为基于特征重构的表面缺陷检测方法，首先利用缺陷生成器在正常图像上模拟生成缺陷图像；正常图像和缺陷图像分别输入到多尺度特征生成器中，分别提取正常图像对应的正常特征和缺陷图像对应的缺陷特征；然后，将缺陷特征作为自编码重构网络的输入，将正常特征作为自编码重构网络的重构目标，对缺陷特征进行重构，得到重构特征；最后，将缺陷特征和重构特征在通道维度上进行拼接，形成两通道的特征向量，拼接后的特征再输入到类孪生网络中，利用类孪生网络提取重构前后特征之间的差异进行缺陷检测，生成缺陷检测掩码图。该方法基于以正常特征为重构目标的特征重构网络，利用类孪生网络提取重构前后特征之间的差异，生成高质量的缺陷检测图像。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 特征 表面 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
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